頓筆罷廠-擱罷-1000廠單通道高溫介電溫譜測試系統適用于電介質材料介電溫譜、阻抗譜、頻譜掃描的測試。系統軟件將高溫測試箱、高溫測試夾具、阻抗分析儀等設備無縫連接，測量在不同溫度、不同測試頻率下電容(頒)、阻抗(竄)、相位角(θ)、損耗(頓)等參數，通過計算獲得復介電常數、電模量等參數，直接得出材料的介電溫譜、頻譜、阻抗譜、電模量、頒辭瀕別-頒辭瀕別等圖譜。

單通道溫譜測試系統/高溫介電常數配置的高溫測試箱，以電阻絲為加熱元件，采用礙型熱電偶和可編程溫度控制器。爐膛采用高質量氧化鋁微晶體纖維材料，最高溫度能達到1100℃，可連續工作1000℃，控溫精度&辮瀕恥蟬塵蒼;1℃；同時設有通氣接口，可用于惰性氣體下使用。具有體積小、重量輕、溫度場均衡、升降溫速率快等優點。

配置的高溫測試夾具，內置高溫測試探針，測試時，系統軟件與高溫測試箱、阻抗分析儀通訊，實現高溫變溫范圍內的阻抗譜、頻率譜、介電溫譜測試。

高溫測試夾具作為高溫介電溫譜儀易損易耗的部件，本系統的高溫測試夾具通過快速拔插連接器實現與系統連接，易拆易裝，同時有利于高溫測試探針的日常維護。

單通道溫譜測試系統/高溫介電常數產物優勢：測量精度高，控溫準，測量頻率寬，抗交流干擾。

系統軟件擁有完善的測量和分析功能，直接得出介電常數與溫度的介電溫譜；不同溫度下進行頻率掃描，直接得出介電常數的頻譜、阻抗譜、電模量、 Cole-Cole圖；集測量、分析、圖標顯示于一體集成化設計。

先后有華中科技大學、湖北大學、華中科技大學溫州院、河北大學、香港城市大學等用戶使用選購DPTS-RT-1000S單通道高溫介電溫譜測試系統，已助力用戶在CHEM ENG J、J MATER CHEM A、J EUR CERAM SOC、CERAM INT等國內外*期刊發表優秀論文。